推力试验探针
本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求，20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及，1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。
- 型号： SC-T32
- 品牌： 广州世测（SHC)
- 技术标准： 符合GB2099.1-2008标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求
产品概述
本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求，20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及，1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。
技术参数
20N推力试验探针SC-T32：探针部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圆R0.2±0.05，20N推力;
1N推力试验探针SC-T32：探针部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圆R0.05，1N推力
使用方法
将探针端部接触试样，然后施力20N（1N），当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。